產(chǎn)品型號：S920

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：上海市

更新時(shí)間：2023-07-17

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產(chǎn)品簡介：

動(dòng)態(tài)光納米粒度儀原理

動(dòng)態(tài)光納米粒度儀性能特點(diǎn)

1、高效的光路系統(tǒng)：采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路，充分滿足空間相干性的要求，極大地提高了散射光信號的信噪比。

2、高靈敏度光子探測器：采用計(jì)數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管，對光子信號具有*的靈敏度和信噪比； 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進(jìn)行計(jì)數(shù)，瞬間捕捉光子脈沖的變化。

3、大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用高、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)光子相關(guān)器，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾，實(shí)現(xiàn)了大的動(dòng)態(tài)范圍，并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性。

4、高精度溫控系統(tǒng)：基于半導(dǎo)體制冷技術(shù)，采用自適應(yīng)PID控制算法，使樣品池溫度控制精度達(dá)±0.1℃。

5、數(shù)據(jù)篩選功能：引入分位數(shù)檢測異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù)，并剔除異常值，提高粒度測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

6、優(yōu)化的反演算法：采用擬合累積反演算法計(jì)算平均粒徑及多分散系數(shù)，基于非負(fù)約束正則化算法反演顆粒粒度分布，測量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性都優(yōu)于1%。

zeta電位分析儀測量

Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)zeta電位愈高，顆粒間的相互排斥力越大，膠體體系愈穩(wěn)定， 因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。

原理

帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運(yùn)動(dòng)，單位電場強(qiáng)度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時(shí)，會(huì)帶著緊密吸附層和部分?jǐn)U散層一起移動(dòng)，與液體之間形成滑動(dòng)面，滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。

zeta電位分析儀性能特點(diǎn)

1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路，替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路，使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾，有效地提高了信噪比和抗干擾能力。

2.先對散射光信號進(jìn)行頻譜預(yù)分析，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍，然后在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移。

3.基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值，再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式，進(jìn)而有效提高了zeta電位的計(jì)算精度。